Sudjelovanje vještaka za daktiloskopiju i identifikaciju na godišnjem sastanku Radne skupine za otiske prstiju (ENFSI FIN-WG)

U razdoblju od 24. do 28. studenoga 2025. godine u Barceloni, Španjolska, održan je 22. godišnji sastanak Radne skupine za otiske prstiju (ENFSI FIN-WG) na kojem su sudjelovali glavni vještaci za daktiloskopiju i identifikaciju Centra - Megi Kujundžić za područje detekcije spornih tragova papilarnih linija i Tina Smoljanović za područje identifikacije spornih tragova papilarnih linija.

FOTO: ENFSI i CFIIV "Ivan Vučetić"

U podskupini za detekciju spornih tragova španjolski su stručnjaci predstavili metodu razvijenu u vlastitom laboratoriju (tzv. in-house), namijenjenu izazivanju tragova na forenzički zahtjevnim površinama, poput kore banane, ljuske oraha, kore naranče i lateks rukavica. Metoda je prikazana kroz praktični rad, u kojem su sudionici imali priliku sami je primijeniti.

U okviru podskupine za identifikaciju, u suradnji ENFSI-ja s vanjskim predavačima, održan je trodnevni tečaj pod nazivom Examination of simultaneous impressions. Tečaj je obuhvaćao teorijski i praktični dio, a bio je posvećen simultanim tragovima papilarnih linija, njihovu prepoznavanju, tumačenju i vještačenju. Tijekom rada razmijenjena su iskustva s kolegama iz drugih laboratorija, a nakon završnog ispita polaznicima je dodijeljen certifikat.

Na zajedničkom dijelu sastanka predstavljena su istraživanja o izazivanju spornih tragova na površinama onečišćenima krvlju te o obradi novih euronovčanica i drugih složenih podloga. Izloženi su rezultati međulaboratorijskih ispitivanja sposobnosti iz područja detekcije i identifikacije za 2024. godinu, uz pripadajuće preporuke. Sudionicima su podijeljeni i materijali za novo ispitivanje sposobnosti iz područja detekcije, planirano za 2025. godinu.

Posebna pozornost posvećena je klasifikaciji daktiloskopske zbirke te novom načinu tumačenja podudarnosti tragova i otisaka papilarnih linija, temeljenom na stupnjevanju vjerojatnosti. Predstavljeni su i slučajevi iz prakse Nizozemskog forenzičkog instituta te novi način obrade podataka u AFIS-u koji se primjenjuje u Švicarskoj.

Sudjelovanje na godišnjem sastanku pridonijelo je unaprjeđivanju stručnog rada u području detekcije i identifikacije spornih tragova papilarnih linija. Znanja i iskustva s ovog sastanka prenijet će se na djelatnike Službe daktiloskopije i identifikacije Centra te primjenjivati u svakodnevnom radu, radi daljnjeg unaprjeđivanja kvalitete rada Službe.

Stranica